R.F. Egerton - Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2nd ed. 2016, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 196, publicationDate : 2016-07-07, authors : R.F. Egerton, languages : english, ISBN : 3319398768 ...
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